測量導向軸的表面粗糙度可以采用多種方法，主要包括接觸式和非接觸式測量方法，具體選擇取決于精度要求、測量環境和成本因素。以下是常用的測量方法及其適用情況。
1. 觸針式粗糙度測量儀(接觸式)
●原理
○觸針式測量儀利用精密金剛石探針沿導向軸表面移動，記錄表面微觀起伏并轉換為電信號，計算粗糙度參數。
●測量步驟
○設備準備：選用合適的粗糙度測量儀，如泰勒霍普森、三豐、馬爾等品牌的儀器。
○表面清潔：使用干凈的無塵布或酒精清潔導向軸表面，避免油污或雜質影響測量。
○固定測量儀：確保測量儀穩固放置，觸針垂直于軸表面。
○設定參數：根據要求設定測量長度、濾波方式及參考標準(如 Ra、Rz、Rq)。
○執行測量：啟動測量儀，觸針沿導向軸表面滑動并記錄數據。
○數據讀取：測量儀自動計算 Ra、Rz、Rq 等粗糙度值，并在顯示屏上輸出結果。
●適用范圍
○適用于 Ra 0.05~10 μm 范圍的導向軸測量。
○適用于精密加工和高要求表面，如高精度導向軸、直線軸承導軌。
2. 白光干涉顯微鏡(非接觸式)
●原理
○利用白光干涉原理，通過光束干涉產生表面三維形貌圖，測量表面粗糙度。
●測量步驟
○清潔導向軸表面，避免油污影響光反射。
○將導向軸放置在顯微鏡載臺上，調整焦距。
○調整測量參數(掃描區域、放大倍率等)。
○執行掃描測量，系統自動生成表面粗糙度數據。
○數據分析，可得到 Ra、Rz 等參數，并查看表面3D形貌。
●適用范圍
○適用于超高精度測量(Ra 0.005~1 μm)。
○適用于微觀表面分析，如超精密研磨導向軸。
3. 激光共聚焦顯微鏡(非接觸式)
●原理
○利用激光共聚焦掃描技術測量表面微觀形貌，可快速測量粗糙度。
●測量步驟
○放置導向軸在測量平臺上，調整焦距。
○設定掃描參數(掃描范圍、測量模式)。
○執行測量，系統自動采集數據并計算粗糙度參數。
○查看3D表面形貌，分析粗糙度值。
●適用范圍
○適用于 Ra 0.01~5 μm。
○適用于精密加工和表面微觀結構分析。
4. 比較法(樣塊比對法)
●原理
○使用已知粗糙度的標準樣塊，通過目測或觸摸對比導向軸表面，判斷粗糙度范圍。
●測量步驟
○準備粗糙度樣塊(按照ISO、JIS、ANSI等標準)。
○清潔導向軸表面，避免誤判。
○用手指觸摸導向軸表面，與樣塊進行比對。
○使用放大鏡或顯微鏡輔助觀察。
●適用范圍
○適用于 Ra 0.8~6.3 μm 的快速檢測。
○適用于車間現場檢查，但精度較低。
5. 光切顯微鏡(光學測量)
●原理
○利用光學投影原理，測量導向軸表面的高度變化，從而計算粗糙度。
●測量步驟
○調整光切顯微鏡光源，使光束投射到導向軸表面。
○觀察投影圖像，分析表面微觀形貌。
○計算粗糙度參數。
●適用范圍
○適用于 Ra 0.1~3.2 μm。
○適用于現場快速檢測，精度適中。
結論
●普通導向軸(Ra 0.8~1.6 μm) 可使用觸針式測量儀、樣塊比對法或光切顯微鏡。
●精密導向軸(Ra 0.2~0.8 μm) 推薦使用觸針式測量儀或激光共聚焦顯微鏡。
●超精密導向軸(Ra 0.05~0.2 μm) 最好使用白光干涉顯微鏡或激光共聚焦顯微鏡。
根據導向軸的精度要求，選擇合適的測量方法，以確保測量結果的準確性和可靠性。本文內容是上隆自動化零件商城對“導向軸”產品知識基礎介紹的整理介紹，希望幫助各行業用戶加深對產品的了解，更好地選擇符合企業需求的優質產品，解決產品選型中遇到的困擾，如有其他的疑問也可免費咨詢上隆自動化零件商城。●○
